Mar 26, 2025 Jäta sõnum

OWON 4. põlvkonna multifunktsionaalne digitaalne fosfor-ostsilloskoop

 

Peamised tehnilised uuendused

 

● Ultra{0}}Madal müra ja kõrge eraldusvõime

Kasutab X-Vision III arhitektuuri, mille algtaseme müra on kuni 200 μV, võimaldades täpset μV-taseme signaali analüüsi.

●12-bitine vertikaalne eraldusvõime(laiendatav 16-bitiseks täiustatud režiimis), mis toetab suure dünaamilise ulatusega signaalihõivet.

● Suur proovivõtu- ja salvestusmaht

Ribalaius: 20MHz–500MHz (nt ADS3000 seeria); Reaalajas diskreetimissagedus kuni 2,5 GSa/s; 100 Mpts salvestussügavus tagab pika-kestusega lainekuju salvestamise.

●Lainekuju püüdmise kiirus: 500 000–750 000 wfms/s (jadarežiimis), parandades oluliselt mööduvate anomaaliate tuvastamist.

●Hübriidsignaali analüüs

Toetab 4 analoogset + 16 digitaalkanalit riistvaralise-kiirendatud I2C/SPI/CAN/LIN-protokolli dekodeerimisega siini signaali reaalajas-parsimiseks. Täiustatud käivitusrežiimid: serv, impulss, aken, loogika ja protokolli trigerid.

Peamised rakendused

 

● Uus energia ja võimsus disain

μV{0}}taseme täpsus fotogalvaanilise inverteri MPPT tõhususe analüüsiks ja energiasalvestussüsteemi ahela vastuse testimiseks.

●Autoelektroonika

Riistvara{0}}dekodeeritud CAN FD/LIN siini signaalid ECU signaali terviklikkuse kontrollimiseks ja anduri müra diagnoosimiseks.

●5G ja kiire{1}}side

Toetab PCIe 6.0 värinaanalüüsi ja RF-signaali spektri analüüsi telekommunikatsiooni teadus- ja arendustegevuse jaoks.

● Teadusuuringud ja haridus

Eelarvemudelid integreerivad ülikooli laborite jaoks FFT analüüsi ja Lissajousi mustrite genereerimise.

Konkurentsieelised

 

●Kulu{0}}tõhus lokaliseerimine

●Tarkvara ökosüsteem

Kaugjuhtimine SCPI käskude ja LabVIEW integratsiooni kaudu; toetab automatiseeritud testimise töövooge.

Tehnilise evolutsiooni suundumused

 

Arukas diagnostika

Roheline testimine

Optoelektrooniline integratsioon

 

 

Küsi pakkumist

Kodu

Telefoni

E-posti

Küsitlus