TDS seeria nelja kanali digitaalne ostsilloskoop

Puuteekraaniga digitaalne ostsilloskoop sagedusribaga 70 MHz / 100 MHz / 200 MHz, 1GS / s / 2GS / s valimikiirus, režiimi pikkus 7,6 M ja 50 000 wfms / s lainekuju värskendussagedus

Küsi pakkumist

Räägime nüüd

Toote tutvustus

- 70 MHz-200 MHz ribalaius, max 2GS / s proovikiirus

- 7,6 M rekord pikkus

- 50 000 wfms / s lainekuju salvestamise määra

- lainekuju suurendamine (horisontaalne / vertikaalne) ja salvestamine

- FFT punktid (pikkus ja eraldusvõime muutuja)

- mitme akna pikendus

- 8 tolli 800 x 600 pikslit kõrge def LCD

- mitme kommunikatsiooni liides: USB, VGA, LAN

- LabVIEW toetatud

- 4 kanali väljundit

Mudeli nr.	Kanal	Ribalaius	Proovi kiirus	Salvestuse pikkus
TDS7074	4	70MHz	1GS / s	7,6 M
TDS7104	4	100 MHz	1GS / s	7,6 M
TDS8104	4	100 MHz	2GS / s	7,6 M
TDS8204	4	200 MHz	2GS / s	7,6 M

1. Kuva ekraan

KKK-d

Miks peaksite valima katse- ja mõõteseadmete jaoks sobiva skaala?

Mõõtmisvõimaluste täiustamiseks on enamikul T & M-seadmetel erinevad skaalad, mis vastavad paljude signaalimõõtmiste nõudlusele. Kui kasutate väikese signaali mõõtmiseks suurt skaalat, siis paljud teavad, et see põhjustab kõrvalekaldeid, kuid ei saa seda põhjust põhjendada. Vaatame, kuidas erinevad skaalad tulemust mõjutavad.

Mõned insenerid usuvad, et suurte mõõtmetega saab mõõta suuremat objektiisignaali. See tähendab, et instrumendil on võimalik jälgida nii väikesi kui ka suuri signaale, mistõttu mõned neist valivad sageli mõõtmise rakendamiseks suuremahulisi mõõtmeid. Mõni hoiab skaala vaikeasendis ja mõõtmistulemused võivad tunduda täiesti täpsed, kuid kas mõõtmisega on probleeme?

ADC kvantitatiivne kõrvalekalle

Mõõterihiline kõrvalekalle instrumendi sees võib mõjutada tulemuse täpsust. Näiteks ostsilloskoobi kasutamisel 9-bitise ADC puhul on 2 ⁹ = 512 kehtivat taset. Kui see on alla 1000V skaala (Peak-Peak), kaaludes sisendit maksimaalselt ± 1000V, et jagada 512 kehtivat bitti. Kvantifitseerimise hälve jõuaks 2000V / 512 = 3.9V

Kui kasutate seda skaalat, et mõõta midagi 11V, on ilmne, et ühe ADC proovide võtmise minimaalne lahutusvõime ei mõjuta 1 V signaali muutust.

Owon on seda tehnilist raskust purustanud, vabastades oma XDS-seeria 12- ja 14-bitised ostsilloskoobid, mis annavad olulise eelise signaali mõõtmise resolutsioonis. Kasutades 1000V skaalaga sama juhtumit, annab 12-bitiline ADC umbes 0,5 V eraldusvõime ja 14-bitise ADC annab umbes 0,125 v resolutsiooni. Nagu näha, on see märkimisväärne eelis detailsete ja täpsete mõõtmiste tegemisel.

Signaali mõõtmiseks sobiva skaala kasutamine on oluline, kui see pole vajalik, ärge valige väikeste signaalide mõõtmiseks suurt skaalat. Selle asemel vali skaala, mis vastab paremini mõõdetud signaalitasetele, et tagada täpsed tulemused. OWON XDS ostsilloskoobi ulatus pakub kasutajatele rohkem võimalusi sobivaima skaala valimiseks ja on loodud selleks, et hõlpsamini teha täpsemaid mõõtmisi.

Mudel	TDS7074	TDS7104	TDS8104	TDS8204
Ribalaius	70MHz	100 MHz		200 MHz
Kanal	4
Proovi kiirus	1GS / s		2GS / s
Waveform Capture Rate	50 000 wfms / s
Kuva	8 "puuteekraani värviline LCD-ekraan
Salvestuse pikkus	7,6 M
Horisontaalne skaala (s / div)	2ns / div - 100s / div, samm 1 - 2 - 5
Vertikaalne eraldusvõime (A / D)	8 bitti eraldusvõime (4 kanalit üheaegselt)
Vertikaalne tundlikkus	2mV / div - 10V / div (sisendis)
Trigeri tüüp	Edge, Pulse, Video, Slope
Käivitusrežiim	Auto, tavaline, üksik
Waveform Math	+, -, ×, ÷, FFT
Sideport	USB host, USB-seade, VGA, LAN, AUX
Mõõtmed (W × H × D)	380 × 180 × 115 (mm)
Kaal (ilma pakendita)	1,5 kg